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PCT老化试验箱的用途及参数

发布日期:2022-12-03        访问次数:542

PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验箱)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等,广泛应用于线路板,多层线路板,IC、LCD,磁铁等产品之密封 性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

符合标准:UL1581sect420.9、ASTM-D2436、CNS3556、CNS742、JIS7212、JIS B7757、GB试验求等。


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